DIN EN 60749-27:2007-01

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) (IEC 60749-27:2006); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006

Beziehungen

Enthält:

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25.08.2006 Aktuell

EN 60749-27:2006-08

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

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19.07.2006 Aktuell

IEC 60749-27:2006-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Entwurf war:

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01.05.2005 Historisch

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine-Model (MM) (IEC 47/1804/CDV:2005); Deutsche Fassung prEN 60749-27:2005

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01.09.2002 Historisch

E DIN EN 60749-27:2002-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) (IEC 47/1624/CDV:2002); Deutsche Fassung prEN 60749-27:2002

Ersetzt bzw. ergänzt:

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01.04.2013 Aktuell

DIN EN 60749-27:2013-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006 + A1:2012